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美国bowman半导体膜厚测试仪电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。
探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
美国bowman半导体膜厚测试仪您可以针对您的应用选择**合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析
大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
美国bowman半导体膜厚测试仪的产品特点：可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层
测量！以**的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行
美国bowman半导体膜厚测试仪高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（**250×200mm）中方便地指定测量位置
今天，在科技飞速发展的时代，对品质的要求也越来越高，博曼（bowman）可以达到您的要求，保证并提高你的产品品质。博曼（bowman）将与您携手共进。
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